不良品の1次解析で現象の深堀りを実施しています
レスターエレクトロニクスには、メーカー出身の본즈 카지노者が数多く在籍しています。製品や部品の開発・製造プロセス知識を多くもつ人材と、その洗練された眼によって不具合事象を観察して早期解決に繋げています。
不良品の1次解析
不具合が発生した時に、以下内容を確認することを「１次解析」と呼んでいます。
- お客様で発生した現象が別環境でも発生するかどうか
- 発生した現象が変化していないかどうか
- 発生している現象が規格外かどうか
- 外観的に異常が発生していないかどうか
レスターエレクトロ二クスでは、この段階で、お客様使用状態及び仕入先様製造 状態と不具合の関連性を、可能な限り推定しています。そして「原因要因の方向付け」 や「原因解析の方向付け」も併せて実施しています。
不再現(NTF)時の対応
お客様の現象が再現しない場合、「高温試験」、「熱衝撃試験」や「過負荷条件下試験」等を実施して、条件の再現に務めます。必要に応じてお客様のSETを入手し、測定治具との差異確認も実施します。
不再現(NTF)とは？
お客様工程や市場で不具合現象確認後に仕入先様で現象が再現しないと、原因追究出来ず、責任区分を決められなくなります。結果として、不具合が観察された製品はお客様に戻され、再使用することが出来なくなります。
このように不具合現象が再現しないまま、宙に浮いてしまう現象を「不再現：NTF（No Trouble Found）」と呼んでいます。
1次解析報告書例
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