不具合品の再現検証・メカニズム考察
不具合品の責任区分でお困りになることがあると思います。特に、液晶モジュールなどの場合、原因が多岐に絡み合い責任区分を明確にすることが困難になりがちです。このような時、観察された結果（事実）から仮説を立てて検証する再現実験の実施が期待されます。
レスター品質サポートでは、メーカー出身者の知恵と豊富な経験を活かし、仮説立案から再現検証まで行い責任区分の明確化に尽力します。
再現検証
不具合の再発を防ぐための取り組みにおいて、「発生メカニズム究明」は最も重要なポイントとなります。
特に市場から返却される不具合については、使用状況によって様々な要因が絡み合い、原因特定と対策実現が非常に困難となります。
レスター品質サポートでは、不具合現品の解析を多方向(ユーザー視点や製造者視点)から行います。そして、検出できた異常状態から発生時の使用状況を想定して、再現検証方法を検討し、同時に発生メカニズムの仮説も考察します。再現検証を実施する時には、必要に応じて独自に作成した検証用装置や治具を駆使して行います。
再現検証の事例
製品出荷後のガラス割れ発生
ESD要因によるIC破壊
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